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膜厚計
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電気抵抗式膜厚計RST-231
電気抵抗式膜厚計
RST-231
絶縁体上の金属膜(銅箔、プリント基板のメッキ等)を短時間(0.7秒)で高精度に測定
特 長
4探針プローブ(ケルビン型)を採用。裏面や内層の影響を受けず、両面基板や多層基板も裏面や内層の影響を受けずに測定可能。
PCを使用。 画面も大きく見易い仕様。
校正・測定が簡単。 2種類のレンジが選択でき、2~120μmの金属膜を測定可能。
最大40チャンネルまで登録できるので、ユーザー名や品番などでチャンネルを分けて登録して管理可能。
測定データはチャンネルごとに保存でき、後から測定データに統計項目を設定して統計処理することが可能。
膜厚の上限・下限を設定することで異常値を通知。
仕 様
測定原理
4探針電気抵抗式
測定範囲
2~24μm、10~120μm
チャンネル数
40チャンネル
データ容量
100,000データ
表示
PCモニター画面に依存
統計処理
最大値、最小値、平均値、標準偏差、
平均値、標準偏差、ヒストグラム、上下限値設定
電源
AC100-240V、50/60Hz、10VA
重量
3.0kg(本体)
外形寸法
280(W)×230(D)×88(H)(本体)
カタログダウンロード
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絶縁体上の金属膜(銅箔、プリント基板のメッキ等)を短時間(0.7秒)で高精度に測定